本發(fā)明公開了一種工業(yè)X光圖像的分類方法,該方法實現(xiàn)了對工業(yè)生產(chǎn)過程中無損探傷檢測環(huán)節(jié)的自動化,能夠代替人工對該環(huán)節(jié)產(chǎn)生的X光圖像進行病疵種類的快速分類。本發(fā)明還針對底紋對病疵圖像識別的影響作出改進,通過提出去底紋函數(shù),構(gòu)造出純底紋圖像,利用原圖與純底紋圖像的差異,在一定程度上去除原圖中的底紋,大幅提升這種情況下圖像分類的準確率。此外本發(fā)明通過對神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練過程中殘差的利用,大大降低訓(xùn)練耗時,確保了方法的高效性。
聲明:
“工業(yè)X光圖像的分類方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)