本發(fā)明提供了一種相控陣微波成像無損檢測裝置及方法,包括:計算機(jī)、微波源、功率放大器、功率分配器、控制器、陣列天線、饋線、信號采集與處理器、變位機(jī);計算機(jī)分別與控制器、信號采集與處理器、變位機(jī)連接;所述計算機(jī)包括一個檢測模塊,所述檢測模塊提供掃描控制參數(shù),計算機(jī)將檢測模塊提供的掃描控制參數(shù)發(fā)送至控制器;控制器根據(jù)接收到的控制參數(shù),控制微波源產(chǎn)生微波信號,微波源將微波信號傳輸至功率放大器。本發(fā)明所述的一種微波相控陣無損檢測裝置及方法相比于傳統(tǒng)的方法,具有精度高、效率高、可實時成像等優(yōu)點。
聲明:
“相控陣微波成像無損檢測裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)