本發(fā)明主要屬于測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及消除電位漂移影響的pH復(fù)合電極、監(jiān)測檢測系統(tǒng)及方法。本發(fā)明利用同一支金屬氧化物電極在類似溶液環(huán)境中的電位漂移行為相近的特性,設(shè)計由1支金屬氧化物pH響應(yīng)電極、2支參比電極、獨立液池、防護殼體、密封與封裝材料構(gòu)成的復(fù)合電極,該復(fù)合電極中pH響應(yīng)電極的兩個不同部位分別在獨立液池溶液和待測溶液中與參比電極形成兩個互不影響的
電化學測試回路。本發(fā)明中的復(fù)合電極電位漂移消除方法,是利用獨立液池回路中pH電極電位漂移值來補償待測溶液回路中pH電極本身的電位漂移量,能夠?qū)崿F(xiàn)復(fù)合電極對待測溶液中pH值變化的較長期準確監(jiān)測,配套的監(jiān)檢測系統(tǒng)能夠顯示出正確的pH值。
聲明:
“消除電位漂移影響的pH 復(fù)合電極、監(jiān)測檢測系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)