本發(fā)明屬于化學(xué)分析技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種離子色譜檢測(cè)高純硫脲中痕量金屬離子含量的方法。采用離子色譜法對(duì)鈉、銨、鉀、鎂、鈣陽(yáng)離子進(jìn)行檢測(cè),利用五種陽(yáng)離子標(biāo)準(zhǔn)樣品制備標(biāo)準(zhǔn)工作溶液,根據(jù)據(jù)金屬離子在陽(yáng)離子系統(tǒng)的響應(yīng),使用金屬離子標(biāo)準(zhǔn)樣品的響應(yīng)峰面積為縱坐標(biāo),以離子含量為橫坐標(biāo)建立標(biāo)準(zhǔn)曲線,通過(guò)樣品中相應(yīng)離子的響應(yīng)峰面積,帶入標(biāo)準(zhǔn)曲線中,計(jì)算出樣品中的金屬離子含量。該方法該方法操作簡(jiǎn)單,檢測(cè)快捷,無(wú)需復(fù)雜前處理,檢測(cè)過(guò)程無(wú)毒無(wú)害,準(zhǔn)確率高,重現(xiàn)性好。
聲明:
“離子色譜檢測(cè)高純硫脲中痕量金屬離子含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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