本發(fā)明涉及一種基于陣列型量子自旋霍爾效應(yīng)絕緣體材料的暫態(tài)電壓檢測(cè)方法。本發(fā)明屬于新型電子材料領(lǐng)域,提供了一種暫態(tài)電壓檢測(cè)方法,可以實(shí)現(xiàn)在電子響應(yīng)時(shí)間精度內(nèi)對(duì)瞬態(tài)電壓進(jìn)行測(cè)量。主要方案包括,步驟1:使用第一性原理計(jì)算確定具有不同帶隙的量子自旋霍爾效應(yīng)絕緣體材料,同時(shí)選擇與之晶格匹配的普通層狀絕緣體材料,計(jì)算能帶結(jié)構(gòu)并分析其費(fèi)米能級(jí)附近電子和空穴的行為;步驟2:通過(guò)層間范德華作用將計(jì)算獲得的具有不同帶隙的量子自旋霍爾效應(yīng)絕緣體材料與普通絕緣體材料進(jìn)行晶格匹配,搭建成按順序堆疊的多層材料單元,同時(shí)通過(guò)計(jì)算多層材料單元聲子色散來(lái)檢測(cè)其動(dòng)力學(xué)穩(wěn)定性;步驟3:將穩(wěn)定的多層材料單元組合成陣列式傳感器,采用化學(xué)氣相沉積法進(jìn)行制備,并對(duì)傳感器陣列的性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。
聲明:
“基于陣列型量子自旋霍爾效應(yīng)絕緣體材料的暫態(tài)電壓檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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