一種方法包括測量分析物離子的第一物理化學(xué)性質(zhì)以便產(chǎn)生數(shù)據(jù)集,以及識別所述數(shù)據(jù)集內(nèi)的第一組分析物離子。所述第一組內(nèi)的分析物離子各自具有屬性的值,所述值對應(yīng)于第一值,或者在所述屬性的第一范圍內(nèi)。所述方法還包括從多個不同校準中選擇與所述屬性的所述第一值或所述第一范圍相關(guān)聯(lián)的第一校準,以及使用所述第一校準來校準所述第一組分析物離子的所測量的第一物理化學(xué)性質(zhì)。
聲明:
“分析儀器的校準” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)