本發(fā)明的X射線熒光光譜法測定高硫
鋁土礦中九種物質(zhì)含量的方法,將含硫混合熔劑、鋁土礦標(biāo)準(zhǔn)樣品、硝酸鋰、熔劑攪拌均勻預(yù)氧化后制備成標(biāo)準(zhǔn)樣品玻璃片;于X射線熒光光譜儀中依次測量玻璃片中Al、Si、Fe、Ti、K、Na、Ca、Mg、S的熒光強(qiáng)度,以熒光強(qiáng)度為縱坐標(biāo),以對應(yīng)的物質(zhì)Al
2O
3、SiO
2、Fe
2O
3、TiO
2、K
2O、Na
2O、CaO、MgO、S的質(zhì)量濃度為橫坐標(biāo)建立工作曲線;將高硫鋁土礦、熔劑、硝酸鋰攪拌均勻預(yù)氧化后制備成待測玻璃片;測量待測玻璃片中元素的熒光強(qiáng)度,根據(jù)熒光強(qiáng)度由工作曲線計(jì)算出待測玻璃片中物質(zhì)的含量。本發(fā)明能夠縮短高硫鋁土礦物質(zhì)檢測流程、減少硫元素對鉑?黃合金坩堝的腐蝕。
聲明:
“X射線熒光光譜法測定高硫鋁土礦中九種物質(zhì)含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)