本實用新型涉及一種用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置,包括支架,所述支架垂直設(shè)置于顯微鏡底座一端,顯微鏡樣品臺平行置于顯微鏡底座上,顯微鏡主體通過支架上橫梁,對應(yīng)設(shè)置于顯微鏡樣品臺上方,所述螺旋測微器同軸置于顯微鏡主體上方;顯微鏡底座前端設(shè)有支柱,其右側(cè)設(shè)有定位顯微鏡主體的顯微鏡固定旋鈕,對應(yīng)顯微鏡主體設(shè)有顯微鏡調(diào)焦旋鈕。該裝置是調(diào)節(jié)顯微鏡的焦距,與電池殼表面對焦,然后用位于支架上的螺旋測微器測量顯微鏡主體頂部距離,得測量數(shù)值L1;用相同的方法再與電池殼刻痕底部對焦,用螺旋測微器測量顯微鏡主體頂部距離,得到測量數(shù)值L2;將L1減去L2,得差值即是電池殼刻痕的深度值。該裝置操作簡單,測量精確。
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“用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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