本發(fā)明提供一種判定鋰二次電池中的低電壓缺陷的方法,該方法包括:測量完成化成工藝的鋰二次電池的一次電壓;運(yùn)送鋰二次電池;測量鋰二次電池在運(yùn)送過程中的暴露溫度;測量完成運(yùn)送的鋰二次電池的二次電壓;基于鋰二次電池的暴露溫度,修正二次電壓以計(jì)算修正的二次電壓;以及比較一次電壓和修正的二次電壓以判定鋰二次電池是否有缺陷。
聲明:
“判定鋰二次電池中的低電壓缺陷的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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