一種用于研究導電高分子
復合材料壓阻特性的四線測量法,屬于精密測試技術領域。這種測量方法是基于一種包括兩個電流端和兩個電壓端的新型四線式壓阻試樣,該試樣由底層組件、中間層組件和頂層組件三部分構(gòu)成。其中,一個電流端位于底層組件中、一個電壓端位于中間層組件中,另外的一個電流端和一個電壓端位于頂層組件中。測量壓阻試樣電阻時,將恒流源接到四線式壓阻元件的兩個電流端、將具有高輸入阻抗的電壓測量裝置接到四線式壓阻元件的兩個電壓端,因而可消除接觸電阻對測量精度帶來的不利影響。本發(fā)明提出的四線測量法可用于導電高分子復合材料壓阻特性測試與分析,該設計思想還可應用于研制基于這種材料的壓阻傳感器探頭。
聲明:
“用于研究導電高分子復合材料壓阻特性的四線測量法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)