一種艙室結(jié)構(gòu)下
復(fù)合材料電磁參數(shù)提取方法,包含:S1、建立復(fù)合材料的均勻化計(jì)算模型;S2、對復(fù)合材料在艙室結(jié)構(gòu)下的屏蔽效能與相變系數(shù)進(jìn)行測試;S3、復(fù)合材料在艙室結(jié)構(gòu)下的電磁參數(shù)提?。痪唧w包括:S31、通過擬合得到復(fù)合材料等效相對介電常數(shù)的初始值以及等效電導(dǎo)率初始值;S32、通過仿真計(jì)算得到復(fù)合材料在艙室結(jié)構(gòu)下的各頻點(diǎn)的屏蔽效能;S33、當(dāng)全部頻點(diǎn)的屏蔽效能均滿足精度要求時,確定相對介電常數(shù)初始值和電導(dǎo)率初始值為艙室結(jié)構(gòu)下的復(fù)合材料電磁參數(shù),否則以一定步長修正電磁參數(shù)重新進(jìn)行仿真計(jì)算直至滿足精度要求。本發(fā)明模擬復(fù)合材料艙室環(huán)境,電磁參數(shù)提取精度高,為航空航天器復(fù)合材料電磁防護(hù)設(shè)計(jì)的仿真電參數(shù)輸入提供有效基礎(chǔ)。
聲明:
“艙室結(jié)構(gòu)下復(fù)合材料電磁參數(shù)提取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)