本發(fā)明涉及一種基于調(diào)制光熱輻射技術(shù)的復(fù)合絕緣子老化程度無損檢測方法,所述方法采用調(diào)制光熱輻射技術(shù)測量老化的復(fù)合絕緣子的光熱輻射信號(hào)幅值和相位與調(diào)制頻率的關(guān)系曲線(幅頻和相頻曲線),通過靈敏度分析確定復(fù)合絕緣子影響光熱輻射信號(hào)的相關(guān)參數(shù)中靈敏度系數(shù)高的參數(shù)和靈敏度系數(shù)低的參數(shù),將靈敏度系數(shù)低的參數(shù)設(shè)置為固定值(其他方法測量值或文獻(xiàn)值或經(jīng)驗(yàn)值),將靈敏度系數(shù)高的參數(shù)設(shè)置為自由變量,利用多參數(shù)擬合將測量的幅頻和相頻曲線與二層光熱輻射理論模型擬合,獲得復(fù)合絕緣子老化層熱擴(kuò)散率與基底層未老化材料熱擴(kuò)散率的比值(即熱擴(kuò)散率比值)和老化層厚度,并根據(jù)獲得的熱擴(kuò)散率比值和老化層厚度判斷復(fù)合絕緣子的老化程度。本方法通過無損測量技術(shù)獲得的熱擴(kuò)散率比值和老化層厚度準(zhǔn)確值來定量評(píng)估復(fù)合絕緣子的老化程度,無損無接觸,使采用調(diào)制光熱輻射技術(shù)實(shí)現(xiàn)高壓輸電系統(tǒng)中使用的復(fù)合絕緣子老化程度的在線檢測成為可能。
聲明:
“基于調(diào)制光熱輻射技術(shù)的復(fù)合絕緣子老化程度無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)