本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N終端及Type C接口的防腐蝕方法,用于降低Type C接口中CC引腳與其它引腳之間發(fā)生
電化學(xué)腐蝕的幾率。在終端中,處理器分別與運(yùn)動(dòng)傳感器和接口
芯片連接;接口芯片分別與處理器和第一Type C接口中的CC引腳連接;運(yùn)動(dòng)傳感器,用于監(jiān)測(cè)終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài);處理器,用于根據(jù)運(yùn)動(dòng)傳感器監(jiān)測(cè)到的終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài),在確定終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)由移動(dòng)狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)時(shí),控制接口芯片將第一Type C接口的CC引腳配置為低電平模式。由移動(dòng)狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)反應(yīng)出終端與外接設(shè)備斷開(kāi)連接,在此情況下將CC引腳配置為低電平模式,可以降低CC引腳的有效電平,進(jìn)而降低CC引腳與其它引腳之間發(fā)生電化學(xué)腐蝕的幾率。
聲明:
“終端及Type C接口防腐蝕方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)