一種對樣品進行納米識別的裝置和方法，包括：借助于倏逝波來測量在樣品與在樣品上方的某納米距離處振蕩的光學納米天線之間的近場相互作用的光譜，并且鑒別對這樣的近場相互作用不敏感的背景背散射的輻射。鑒別可以通過在不知道隔開納米天線與樣品的距離的情況下于納米天線振蕩的周期性重復的時刻進行的光學數(shù)據(jù)采集來實現(xiàn)。測量包括對納米尺度的樣品進行的化學識別，在該測量期間，代表著所述相互作用的與近場輻射對應的相位的絕對值被直接測得，沒有偏移。裝置和測量的校準通過在樣品測量之前執(zhí)行對具有已知的折射率的參考樣品的參考測量來提供。納米識別以50nm以內(nèi)的分辨率來實現(xiàn)，并且可選地，被實現(xiàn)于光譜的中紅外部分內(nèi)。