本發(fā)明公開了一種缺陷定位方法、裝置及存儲介質(zhì)，其屬于鋰電池制備技術(shù)領(lǐng)域，缺陷定位方法具體為先根據(jù)缺陷識別記錄確定缺陷位置與第一預(yù)設(shè)位置在極片長度方向上的第一缺陷距離；測量極片的厚度及卷筒的外半徑；將所述第一缺陷距離、所述極片的厚度及所述卷筒的外半徑代入指定公式中，通過計算和轉(zhuǎn)換確定缺陷位置。本發(fā)明提供的缺陷定位方法、裝置及存儲介質(zhì)能夠解決CCD設(shè)備漏打標(biāo)的問題，使得能夠較精準(zhǔn)計算缺陷位置，進行手動補標(biāo)，其操作方法簡單、實用性強。