本發(fā)明提供了一種儲層X射線成像方法及裝置、樣品制備方法及裝置，涉及地質(zhì)勘探技術(shù)領(lǐng)域，該儲層X射線成像方法包括：獲取第一尺寸樣品的第一成像數(shù)據(jù)；第一尺寸樣品的第一表面設(shè)有第一標(biāo)志物，第一尺寸樣品的第二表面設(shè)有多個第二標(biāo)志物；第二標(biāo)志物的形狀各不相同；利用第一成像數(shù)據(jù)、第一標(biāo)志物和多個第二標(biāo)志物確定第二尺寸樣品的位置數(shù)據(jù)；獲取第二尺寸樣品的第二成像數(shù)據(jù)；第二尺寸樣品根據(jù)第二尺寸樣品的位置數(shù)據(jù)從第一尺寸樣品中得到；第二成像數(shù)據(jù)的精度高于第一成像數(shù)據(jù)；將第一成像數(shù)據(jù)和第二成像數(shù)據(jù)作為儲層X射線成像結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施例可以實(shí)現(xiàn)不同分辨率下X射線掃描樣品位置的準(zhǔn)確對應(yīng)，提高巖石結(jié)構(gòu)的表征精度與代表性。