JEM-2100F 應用廣泛,從材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實現超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發(fā)射電子槍,輕松實現各種分析功能。
傅立葉變換紅外光譜儀能在最短的時間內分析具有挑戰(zhàn)性的樣品,提供最完善的解決方案。分析實驗室對能夠高效完成原材料和最終產品的分析任務的儀器的需求與日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立葉變換紅外光譜儀顯著簡化了傳統(tǒng)傅立葉變換紅外光譜儀的數據分析,樣品采集和儀器驗證環(huán)節(jié),成為完成這類分析任務的一種較好的選擇為確保儀器性能而設計系統(tǒng)性能確認(SP)是一個確保光譜儀長期穩(wěn)定運行的有力工具。
STA 449 F3 JUPITER 包含TG與DSC測試系統(tǒng)。具有如下顯著優(yōu)點:消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率、氣氛壓力與流量差異等因素影響,TG與DTA/DSC曲線對應性更佳。同步熱分析儀根據某一熱效應是否對應質量變化,有助于判別該熱效應所對應的物化過程(如區(qū)分熔融峰、結晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等)。同步熱分析儀在反應溫度處知道樣品的當前實際質量,有利于反應熱焓的準確計算。
島津UV-3600是世界領先的高性能的紫外可見近紅外分光光度計,性能卓越。紫外可見分光光度計是每個化學分析實驗室必備的常用儀器設備之一,在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應用。島津的紫外可見分光光度計產品線非常豐富,從最普通的單光束分光光度計到測量范圍可以擴展到深紫外、近紅外區(qū)域的UV-VIS-NIR分光光度計。
XRADIA CONTEXT MICROCT,是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點計算斷層掃描系統(tǒng)??蓾M足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案,不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內部細節(jié),還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數實現高分辨率和高襯度成像觀察細節(jié)特征。XRADIA CONTEXT 建立在歷經考驗的蔡司XRADIA平臺之上,圖像質量、穩(wěn)定性和易用性均屬上乘,且具備高效的工作流環(huán)境和高通量掃描功能。
自動清洗精密過濾干渣設備——采用膜過濾方式,通過正壓過濾、壓縮空氣吹壓排液再反吹排渣和在線清洗,實現了精密過濾和排干渣的目的,同時延長了濾膜的使用壽命。 膜精度可高達0.01μm,分離后懸浮物可小于20mg/L以下,所排干渣含水率小于60%,可直接裝袋外運。 該產品可以廣泛應用于需要固液分離的工藝中,因設備為密閉容器,故可應用于有毒有害液體的固液分離。
日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個世紀的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析,這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。
ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動態(tài)光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度,具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力,以及使用靜態(tài)光散射測量分子量。動態(tài)光散射檢測由于顆粒布朗運動而產生的散射光的波動隨時間的變化。檢測器將散射光信號轉化為電流信號,再通過數字相關器的運算處理,得到顆粒在溶液中擴散的速度信息,即擴散系數。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。
蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列,是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析,都能在不損失精度的前提下,提高聚焦離子束的應用效率。
X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
日立場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8020采用日立技術公司全新開發(fā)的冷場電子槍,實現超高分辨率下觀察的同時,穩(wěn)定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。是利用二次電子和背散射電子信號,通過真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等的一種分析儀器。
VARIO EL CUBE動態(tài)范圍寬,允許樣品的測量范圍從低微克級到數十毫克。樣品類型從純有機材料(如汽油)到有機含量極低的沉積物皆可。即使是含氟樣品也能耐受。結合其出色的精度,VARIO EL CUBE為各種樣品類型提供靈活可靠的解決方案。VARIO EL CUBE對氫元素的檢測也能獲得高精度。通過一個可靠的熱導檢測器,避免了紅外檢測H2O可能會遇到干擾物和精度不準等問題。
DIMENSION ICON 可以實現所有主要的掃描探針成像技術,其測試樣品尺寸可達:直徑210MM,厚度15MM。溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說,這種噪音水平超越了所有的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大提高了掃描速度。
TECNAI G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環(huán)境的200KV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件,能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像,能進行選區(qū)電子衍射,能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數像的分析,STEM結合EⅨ點、線掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。
用于混合液體稀釋、溶解、反應、乳化、分散、懸濁、防止沉淀等攪拌。 采用壓縮空氣為動力源,防爆性能好。 自動升降,節(jié)省人力與作業(yè)時間。
用于混合液體稀釋、溶解、反應、乳化、分散、懸濁、防止沉淀等攪拌。 采用壓縮空氣為動力源,防爆性能好。 自動升降,節(jié)省人力與作業(yè)時間。
德國耐馳公司全新推出的熱流法導熱儀 HFM 446 Lambda,為導熱系數的測量建立了新的標準化方法,可應用于研究開發(fā)與質量控制領域。其適用的行業(yè)與材料,包括膨脹聚苯乙烯(EPS),擠出聚苯乙烯(XPS),PU 堅硬泡沫,礦物棉,膨脹珍珠巖,泡沫玻璃,軟木塞,羊毛,天然纖維材料,包含相變材料、氣凝膠、混凝土、石膏或聚合物的建筑材料,等等。
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