本發(fā)明公開了一種機(jī)器人電連接器單插針磨損衍化情況測試方法與裝置?，F(xiàn)有的接插件可靠性測試并不能深入的理解具體的接插件失效原因，獲取插接件的磨損衍化曲線。本發(fā)明如下：一、建立試驗橫向、角度偏移量參數(shù)集。二、進(jìn)行模型確立試驗。三、建立磨痕平均體積的衍化模型。四、分別建立被測接插件在兩種加速條件下的磨痕衍化函數(shù)。五、通過模糊決策選定最終使用的加速條件和衍化函數(shù)。發(fā)明通過角度偏移和橫向偏移作為加速條件建立衍化模型，并通過模糊決策的方式選取最優(yōu)的衍化模型，衍化模型充分考慮了接插件在安裝插針時插針的安裝精度對接插件耐磨性能的影響，彌補(bǔ)了現(xiàn)有機(jī)器人接插件可靠性測試方法的不足。