本發(fā)明屬于光學元件性能測試技術領域，公開了一種表征塑料光學元件膜層附著力的測試方法及測試裝置，其中的一種表征塑料光學元件膜層附著力的測試方法，包括以下方法：提供一長條狀且與待表征光學基片材質相同的陪鍍片，陪鍍片具有適于鍍膜的鍍膜面；將陪鍍片的一端固定且另一端懸空，使其呈懸挑狀態(tài)；在陪鍍片的上方設置光源和CCD信號采集器，CCD信號采集器位于光源光經陪鍍片上膜層反射后的反射路徑上。本發(fā)明可適用于對PC、PMMA等塑料光學元件的薄膜附著力的評價和測試，為光學注塑和鍍膜工藝提供一種新的評價視角，有望減少產品膜層起泡、脫落等失效現(xiàn)象的發(fā)生。