本發(fā)明提供一種電力變換裝置及其功率半導(dǎo)體器件健康狀態(tài)自檢方法,該方法,包括:在待測功率半導(dǎo)體器件所在的模塊滿足健康狀態(tài)檢測條件時,獲取待測功率半導(dǎo)體器件的結(jié)溫,然后驅(qū)動待測功率半導(dǎo)體器件導(dǎo)通,并控制待測功率半導(dǎo)體器件流過檢測電流,同時檢測待測功率半導(dǎo)體器件的導(dǎo)通壓降,得到導(dǎo)通壓降的檢測值;若導(dǎo)通壓降的檢測值與導(dǎo)通壓降的理論值之間的差值大于等于閾值,則判定待測功率半導(dǎo)體器件出現(xiàn)封裝失效現(xiàn)象;進(jìn)而實現(xiàn)了對于待測功率半導(dǎo)體器件的健康狀態(tài)自檢測,避免了功率半導(dǎo)體器件發(fā)生封裝失效現(xiàn)象所造成的IGBT器件的故障運(yùn)行和整機(jī)運(yùn)行崩潰的問題。
聲明:
“電力變換裝置及其功率半導(dǎo)體器件健康狀態(tài)自檢方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)