本發(fā)明公開了一種考慮隨機(jī)沖擊的電路系統(tǒng)失效時間確定方法?,F(xiàn)有電路失效時間確定方法未考慮隨機(jī)沖擊。本發(fā)明先確定各元器件的失效率及沖擊載荷閾值初始值,構(gòu)建仿真模型;再確定各元器件變?yōu)殚_路或短路狀態(tài)的狀態(tài)轉(zhuǎn)移率及元器件發(fā)生兩類失效模式的相對概率;確定最先觸發(fā)失效元器件及觸發(fā)失效模式,計算觸發(fā)失效的時間間隔及各元器件當(dāng)前時刻受隨機(jī)沖擊作用的失效率,判斷電路系統(tǒng)的輸出信號是否超過閾值,若未超過,將下一個觸發(fā)失效的元器件及失效模式注入仿真模型中,若超過,記錄電路系統(tǒng)失效時間;重復(fù)循環(huán),將所有電路系統(tǒng)失效時間的均值作為隨機(jī)沖擊載荷下的失效時間。本發(fā)明考慮沖擊載荷對元器件失效的影響,為電路壽命預(yù)測提供支撐。
聲明:
“考慮隨機(jī)沖擊的電路系統(tǒng)失效時間確定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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