本申請涉及一種元器件失效率修正方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì),所述元器件失效率修正方法通過所述修正累積工作時長對所述待測試元器件組的歷史失效率進行修正。在本申請實施例中,通過利用所述修正累積工作時長,在所述元器件的歷史失效率基礎(chǔ)上,通過所述修正累積工作時長引入所述元器件的真實使用環(huán)境或者預(yù)設(shè)使用環(huán)境,基于所述歷史失效率,將新的環(huán)境條件引入至所述元器件失效率的預(yù)計過程中,從而使得得出的所述元器件失效率與真實值更加接近。解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計預(yù)計模型得到的失效率與實際失效率具有較大的預(yù)計偏差,達到了提高所述元器件失效率預(yù)計結(jié)果準(zhǔn)確性的技術(shù)效果。
聲明:
“元器件失效率修正方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)