本發(fā)明公開了一種實際運行工況環(huán)境下電器元件腐蝕失效預(yù)測方法，包括：步驟一、獲取所述服役環(huán)境對腐蝕所述電器元件有影響的關(guān)鍵環(huán)境參數(shù)；步驟二、測量得到表面腐蝕產(chǎn)物膜總厚度平均值步驟三、構(gòu)建加速試驗環(huán)境；步驟四、將所述電器元件和n片銅測試片放置在所述加速試驗環(huán)境中進行加速腐蝕試驗，分n次測量所述電器元件受環(huán)境腐蝕影響的關(guān)鍵性能P和所述銅測試片的表面腐蝕產(chǎn)物膜總厚度T_總；步驟五、擬合得到P＝K₁ln(t′)+B₁，T_總＝K₂ln(t′)+B₂；步驟六、當P＝P′時，T_總的取值T_總′；并且，計算得到所述電器元件在服役環(huán)境運行的腐蝕失效時間預(yù)測值D_失。本發(fā)明具有精確度高的優(yōu)點，能夠幫忙使用者精準的對電器元件進行腐蝕失效預(yù)測以及指導運維。