本實用新型涉及技術(shù)領(lǐng)域，且公開了一種多MOS并聯(lián)失效的檢測電路及設(shè)備，包括NMOS低端保護電路以及PMOS高端保護電路，所述NMOS低端保護電路上電連接有NMOS低端檢測電路，所述PMOS高端保護電路上電連接有PMOS高端檢測電路，所述NMOS低端保護電路包括第一運算放大器U1A、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻Rf以及電阻RF，所述PMOS高端保護電路包括第二運算放大器U1B、電阻R1a、電阻R2a、電阻R3a、電阻Rf1以及電阻RF1，還包括一種多MOS并聯(lián)失效的檢測設(shè)備，該設(shè)備包括上述的多MOS并聯(lián)失效的檢測電路。本實用新型能夠?qū)Χ嗖⒋Ｗo板中的并聯(lián)的所有MOS管進行實時的檢測，并能夠?qū)z測到的信息通過LED燈實時顯示出來，有效提高保護板的產(chǎn)品質(zhì)量。