本申請公開了一種
芯片失效分析方法、裝置、設備及存儲介質(zhì),從待測芯片的記憶模塊中獲取所述待測芯片的唯一識別碼,根據(jù)所述唯一識別碼獲取預先存儲的所述待測芯片的生產(chǎn)信息,根據(jù)所述生產(chǎn)信息對所述待測芯片進行失效分析。本方案中,由于保存在芯片記憶模塊內(nèi)的唯一識別碼不易丟失和混淆,從而使得芯片失效分析可以順利進行,滿足了客戶要求,降低了成本。
聲明:
“芯片失效分析方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)