本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品失效分析方法,該方法包括如下步驟:從存儲裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息;根據(jù)所獲取的失效信息進行失效復制驗證,以驗證所獲取的失效信息對應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復制;當所獲取的失效信息對應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復制時,對失效電子產(chǎn)品進行測試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復制問題;當所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復制問題時,判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障。