本發(fā)明涉及一種用于分析可靠性失效的太陽能組件的方法，包括：(1)將失效組件置于高溫、暗光環(huán)境中并保持電注入預(yù)設(shè)時間；(2)再次進行EL測試和功率測試，獲得處理后的EL測試結(jié)果和功率測試結(jié)果；(3)將處理后的EL測試結(jié)果與初始狀態(tài)的EL測試結(jié)果相比較，并將處理后的功率測試結(jié)果和初始狀態(tài)的功率測試結(jié)果相比較，若處理后的EL測試結(jié)果相對于初始狀態(tài)的EL測試結(jié)果在第一預(yù)設(shè)范圍內(nèi)且處理后的功率測試結(jié)果相對于初始狀態(tài)的功率測試結(jié)果在第二預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，則分析該失效組件為電池片失效；其他比較結(jié)果，則分析該失效組件為封裝材料導(dǎo)致或電池片漿料接觸導(dǎo)致的失效。本發(fā)明還提供了相應(yīng)的裝置。