本實(shí)用新型公開了一種高探測(cè)EOS異常失效分析系統(tǒng)，包括AC電源、電源EMI濾波器、示波器，所述電源EMI濾波器通過(guò)測(cè)試線與AC電源連接，所述電源EMI濾波器與示波器連接，所述電源EMI濾波器與示波器之間設(shè)有歐姆電阻線，使用高探測(cè)EOS異常的失效分析系統(tǒng)可以對(duì)通電后的生產(chǎn)整個(gè)流程中的ESD異常現(xiàn)象進(jìn)行分析，查找出生產(chǎn)狀態(tài)時(shí)的異常點(diǎn)，更能找到根本原因并實(shí)現(xiàn)預(yù)防解決問(wèn)題。