本發(fā)明提供了一種電性失效分析的測試方法,包括:提供電性失效分析中各測試項的測試項函數(shù);根據(jù)電性失效分析的測試需求,確定電性失效分析的測試項,基于測試項形成測試項關聯(lián)數(shù)據(jù),測試項關聯(lián)數(shù)據(jù)與對應的測試項函數(shù)關聯(lián);提供對應測試需求的測試文件,測試文件包括關聯(lián)于測試項的測試項關聯(lián)數(shù)據(jù)及對應的測試參數(shù);運行測試文件,獲取測試結(jié)果;根據(jù)測試結(jié)果和測試需求,在需修改測試文件時,調(diào)整所述測試參數(shù)。本發(fā)明還提供了一種電性失效分析的測試裝置。本發(fā)明提供的技術(shù)方案無需了解測試程序即可修改測試參數(shù)并且無需反復加載和編譯測試程序即可靈活改變測試流。
聲明:
“電性失效分析的測試方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)