本發(fā)明公開了一種測量植物根毛細(xì)胞膜電位的方法,包括以下步驟:利用離子吸收實(shí)驗(yàn)獲取不同電場強(qiáng)度下離子吸收動力學(xué)參數(shù)最大離子吸收速率Imax和親和系數(shù)Km;構(gòu)建不同電場強(qiáng)度下的離子吸收動力學(xué)參數(shù)變化曲線;確定不同電場強(qiáng)度下離子吸收動力學(xué)參數(shù)曲線拐點(diǎn)以及對應(yīng)電場強(qiáng)度;計(jì)算膜電位。本發(fā)明設(shè)備簡單、操作方便、能實(shí)現(xiàn)快速無損傷地測量完整植物根毛細(xì)胞膜電位,可用于測量不同條件下根毛細(xì)胞膜電位。
聲明:
“測量植物根毛細(xì)胞膜電位的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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