本發(fā)明公開了一種二維材料的晶向測試裝置和方法，該裝置沿光路依次包括激發(fā)光路、位移臺和收集光路；激發(fā)光路，用于產(chǎn)生徑向偏振光，并將徑向偏振光聚焦到待測樣品上；位移臺，用于放置待測樣品；收集光路，用于接收待測樣品的透射光，并得到透射光斑的光強(qiáng)分布。本發(fā)明提出的基于徑向偏振光的二維材料的晶向測試方法可以實(shí)現(xiàn)二維材料樣品晶向的非接觸、高效、無損測試，相比于傳統(tǒng)二維材料晶向測試技術(shù)大大縮短了測量時間，降低了操作復(fù)雜度。