本發(fā)明公開了一種基于白光干涉法的微光纖直徑測(cè)量方法，包括：搭建臥式白光干涉光路；將微光纖夾裝在夾具后固定到三維載物臺(tái)上；移動(dòng)三維載物臺(tái)，使白光干涉光路的成像位置在微光纖前側(cè)；將夾裝好的待測(cè)微光纖進(jìn)行加熱；設(shè)置伺服位移系統(tǒng)的位移參數(shù)，啟動(dòng)位移系統(tǒng)，利用白光對(duì)待測(cè)微光纖進(jìn)行定時(shí)定距離的垂直掃描；掃描之后的反射光入射到CCD；對(duì)獲得的圖像進(jìn)行處理分析，計(jì)算出加熱拉伸過程中微光纖的直徑。本發(fā)明通過搭建臥式白光干涉光路實(shí)現(xiàn)微光纖直徑的測(cè)量，準(zhǔn)確計(jì)算出微光纖在加熱拉伸過程中直徑變化；檢測(cè)過程無接觸無損壞，不會(huì)對(duì)微光纖在加熱拉伸過程產(chǎn)生不利影響，整體穩(wěn)定性較高。