本發(fā)明涉及基于矩陣分解的微波熱成像無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，包括微波激勵(lì)裝置和熱成像監(jiān)測(cè)裝置；微波激勵(lì)裝置包括微波信號(hào)發(fā)生器、微波信號(hào)放大器、微波激勵(lì)傳感器和吸波材料；熱成像監(jiān)測(cè)裝置包括熱像儀、數(shù)據(jù)采集處理裝置；數(shù)據(jù)采集處理裝置分別與微波信號(hào)發(fā)生器和熱像儀連接，從而獲得被測(cè)物的溫度變化數(shù)據(jù)。該基于矩陣分解的微波熱成像無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)能夠解決對(duì)不同類型缺陷進(jìn)行快速成像和分離，突出缺陷范圍熱空間模式特征提取，解決了鄰近缺陷由于溫度混疊無(wú)法定位、分離和亞表面缺陷損傷面積難以有效量化問(wèn)題；解決了對(duì)缺陷的自動(dòng)分離問(wèn)題，能對(duì)不同能量的撞擊缺陷和損傷面積進(jìn)行快速成像。