本發(fā)明提供了一種低阻測試線圈電路板生產(chǎn)方法,包括:依次進行的以下步驟:工程設(shè)計、開料、內(nèi)層濕膜、真空蝕刻、自動光學檢查、壓合、鉆孔、化學鍍銅、電鍍銅、外層干膜、真空蝕刻、阻焊、字符、表面處理、成型、開短路測試、低阻測試;在工程設(shè)計步驟中:有線圈的線路菲林在菲林補償時,線圈部分適當減少補償,其他區(qū)域正常補償。本發(fā)明在生產(chǎn)過程中對線圈進行特別的控制,包括從工程設(shè)計、圖形轉(zhuǎn)移、圖形蝕刻及阻焊的絲印,確保線圈部分線寬/距合格,沒有短路、殘銅、沒有擦花,最終阻值測試符合客戶要求,按以上方法生產(chǎn)出來的線圈電路板,低阻測試合格,能滿足客戶或IPC標準。
聲明:
“低阻測試線圈電路板生產(chǎn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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