本發(fā)明公開了一種基于量子弱測量的表面等離子體共振傳感器及金屬表面介質(zhì)折射率測量方法,通過設置合適的偏振態(tài)制備器和偏振態(tài)選擇器,以使從經(jīng)棱鏡?金屬膜?樣品界面反射的光束偏振態(tài)與偏振態(tài)選擇器設定的偏振態(tài)接近正交,并利用量子弱測量放大效應得到的光強得到樣品折射率。本發(fā)明基于量子弱測量技術,對環(huán)境噪聲和技術噪聲有強烈抑制作用,可實現(xiàn)在自然狀態(tài)下樣品折射率變化的高精度測量,有望分子相互作用在超低濃度、甚至少數(shù)分子層面的實時檢測和分析,在生物醫(yī)學、生命科學、分析化學、物理學、材料學等多個技術領域具有重要應用價值。
聲明:
“基于量子弱測量的表面等離子體共振傳感器及金屬表面介質(zhì)折射率測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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