本實(shí)用新型公開了一種含打孔裝置真空度檢測(cè)用的測(cè)試包，包括測(cè)試卡、上覆蓋層、下覆蓋層、下致密型透氣載片、上致密型透氣載片、上不透氣卡片、疏松性透氣載片、下不透氣卡片、化學(xué)指示卡、皺紋紙、下透氣包裝層、第一不干膠、L型包條、延伸臂、變色框、核心塊、底片、第二不干膠和上透氣包裝層，測(cè)試卡的上方設(shè)置有上致密型透氣載片，上致密型透氣載片的上方設(shè)置有上覆蓋層，測(cè)試卡的下方設(shè)置有下致密型透氣載片，下覆蓋層的外部安裝有下透氣包裝層，下透氣包裝層的左側(cè)連接有第一不干膠，本實(shí)用新型可以減少包裹測(cè)試卡的麻煩，避免產(chǎn)生縫隙，影響測(cè)試效果，提高了含打孔裝置測(cè)試包的真空度檢測(cè)精度。