本發(fā)明公開(kāi)了一種探測(cè)基板、探測(cè)面板及光電檢測(cè)裝置,本發(fā)明通過(guò)在輸入端子與偏置電壓線(xiàn)之間設(shè)置電壓補(bǔ)償模塊,在環(huán)境光照射下,該電壓補(bǔ)償模塊與光電轉(zhuǎn)換模塊產(chǎn)生大小相反的電壓,因此電壓補(bǔ)償模塊在探測(cè)基板制作過(guò)程中可以抵消光電轉(zhuǎn)換模塊在環(huán)境光下產(chǎn)生的電壓,避免偏置電壓線(xiàn)上的電勢(shì)積累,從而解決了存在電勢(shì)的偏置電壓線(xiàn)在顯影液或剝離液的環(huán)境中容易發(fā)生
電化學(xué)腐蝕的問(wèn)題,從而增加產(chǎn)品的使用壽命,以及提高產(chǎn)品的信賴(lài)性。
聲明:
“探測(cè)基板、探測(cè)面板及光電檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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