本發(fā)明提供一種容易維護(hù)的光學(xué)式粒子檢測(cè)裝置以及粒子的檢測(cè)方法。該光學(xué)式粒子檢測(cè)裝置具有:發(fā)光的光源(1)、對(duì)光進(jìn)行傳播的光纖(2)、對(duì)從光纖(2)的出射端部射出的光進(jìn)行聚光的照射側(cè)聚光透鏡(12)、使由照射側(cè)聚光透鏡(12)聚光的光橫穿包含粒子的氣流的噴射機(jī)構(gòu)(3)。在此,粒子包含微生物、無(wú)害或者有害的化學(xué)物質(zhì)、灰塵、塵土以及塵埃等垃圾等。光纖(2)例如是多模光纖。
聲明:
“光學(xué)式粒子檢測(cè)裝置以及粒子的檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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