診斷性電化學阻抗譜(EIS)程序用于測量一個或多于一個檢測電極的阻抗相關(guān)參數(shù)的數(shù)值。所述參數(shù)可包括實阻抗、虛阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相關(guān)參數(shù)的測量值隨后用于進行傳感器診斷，基于來自多個冗余檢測電極的信號計算高可靠性的融合傳感器葡萄糖值，校正傳感器，檢測一個或多于一個檢測電極的附近的干擾物，以及測試電鍍電極的表面特性。有利地是，阻抗相關(guān)參數(shù)可被定義成在特定的頻率范圍內(nèi)基本獨立于葡萄糖。專用集成電路(ASIC)能夠執(zhí)行基于EIS的診斷、融合算法和其他基于EIS參數(shù)的測量值的過程。