本發(fā)明涉及化學(xué)分析技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種用于X熒光分析的粉末制樣方法;包括如下步驟:(1)將XRF邁拉膜蓋在工作托盤(pán)上,再在XRF邁拉膜上放一只塑料環(huán),使工作托盤(pán)完全托住塑料環(huán);(2)往塑料環(huán)中加入粉末樣品,刮平、壓實(shí),使粉末與塑料環(huán)環(huán)口平齊,得待制品;(3)將待制品放在壓樣機(jī)上進(jìn)行壓制,成型后撤去工作托盤(pán),用透明膠帶封實(shí)樣片上與空氣直接接觸的一面,即得成品;本發(fā)明提供的制樣方法簡(jiǎn)單、方便、快捷,制得的樣片質(zhì)量及使用效果好,在X射線照射及近真空環(huán)境的環(huán)境下依然能保持表面的平整和光滑,實(shí)際分析過(guò)程中不會(huì)開(kāi)裂,從而避免污染分析腔,分析時(shí)也不會(huì)腐蝕分光晶體,大大提高了樣品分析的準(zhǔn)確性和X熒光使用的安全性。
聲明:
“用于X熒光分析的粉末制樣方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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