本發(fā)明公開了一種直接采樣電離分析系統(tǒng),包括:采樣模塊,用于接觸采集待測樣品,采集待測成分;試劑盒模塊,用于固定采樣模塊,洗脫待測成分,獲得洗脫溶液;反應(yīng)模塊,用于對(duì)洗脫溶液進(jìn)行高通量的化學(xué)反應(yīng);進(jìn)樣模塊,用于將試劑盒模塊固定在質(zhì)譜儀的進(jìn)樣端,使得進(jìn)樣模塊和質(zhì)譜儀配合進(jìn)樣;采樣模塊為一端固定有多孔膜的金屬探針,多孔膜用于接觸采集待測樣品。本發(fā)明涉及的直接采樣電離分析系統(tǒng),通過用一端固定有多孔膜的金屬探針進(jìn)行采樣,操作便捷,且能迅速得到測試結(jié)果,適用于現(xiàn)場快速檢測、臨床快檢等應(yīng)用,滿足了快速取樣分析的需求,大幅簡化質(zhì)譜分析的樣品前處理過程。本發(fā)明還提供了一種使用上述系統(tǒng)的一種直接采樣電離分析方法。
聲明:
“直接采樣電離分析系統(tǒng)及方法、應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)