本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N晶態(tài)物質(zhì)的閉孔孔隙率的分析測(cè)試方法，包括：獲取晶態(tài)物質(zhì)的真密度ρ₁、理論密度ρ₂和系統(tǒng)差ρ₃；利用公式[ρ₂/(ρ₁?ρ₃)?1]*100％計(jì)算得到晶態(tài)物質(zhì)的閉孔孔隙率。本申請(qǐng)所述分析測(cè)試方法不受晶態(tài)物質(zhì)的孔徑大小限制，并且可以測(cè)量全范圍粒徑大小的晶態(tài)物質(zhì)的閉孔孔隙率，適用范圍廣、操作簡(jiǎn)便、成本低。本申請(qǐng)利用X射線粉末衍射儀和真密度分析儀進(jìn)行測(cè)試分析，不會(huì)破壞晶態(tài)物質(zhì)結(jié)構(gòu)。本申請(qǐng)僅使用儀器測(cè)試值計(jì)算得到閉孔孔隙率，不需要使用感光膜、切片等，也不需要化學(xué)試劑等有危害物質(zhì)，對(duì)環(huán)境友好，綠色環(huán)保。