本發(fā)明公開了一種存儲器、基于FTIR的反應熱效應測試分析方法、裝置和設備,該測試分析方法包括如下步驟:在慢速化學反應或低放熱負荷化學反應過程中,同步進行反應量熱測試與FTIR原位測試;將FTIR原位測試紅外讀取的活性官能團變化數(shù)據(jù)生成曲線,該曲線作為量熱曲線的校準基準;將反應量熱測試最終得到的熱累積曲線相對于活性官能團變化曲線進行動態(tài)優(yōu)化匹配,從而積分獲取反應熱效應曲線。本發(fā)明可以有效提高反應熱數(shù)據(jù)的真實可靠性。
聲明:
“存儲器、基于FTIR的反應熱效應測試分析方法、裝置和設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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