本發(fā)明提供一種新型的與電化學(xué)發(fā)光同時(shí)測(cè)量的超分辨電化學(xué)成像測(cè)量裝置，示意圖如圖1所示。由計(jì)算機(jī)1、雙恒電位儀2、壓電晶體控制器3、三維壓電晶體4、光電倍增管檢測(cè)系統(tǒng)5、光電倍增管檢測(cè)器6、檢測(cè)池7、探針8、參比電極9、對(duì)電極10和被測(cè)基底樣品11組成。其中探針8、參比電極9、對(duì)電極10和被測(cè)基底樣品11組成四電極檢測(cè)系統(tǒng)。雙恒電位儀2用于在探針8和被測(cè)基底樣品11之間施加電化學(xué)激勵(lì)信號(hào)，光電倍增管檢測(cè)器6檢測(cè)電化學(xué)發(fā)光信號(hào)的同時(shí)雙恒電位儀2檢測(cè)探針8上的電流信號(hào)，結(jié)合三維壓電晶體4納米級(jí)別的位移分辨率來(lái)實(shí)現(xiàn)超高分辨率的電化學(xué)發(fā)光信號(hào)成像檢測(cè)和電化學(xué)電流信號(hào)成像檢測(cè)。該成像系統(tǒng)的成像分辨率取決于探針電極的尺度及探針的空間位移分辨率，因此可以突破以往光學(xué)成像分辨率的限制，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別的成像分辨率。