本發(fā)明涉及一種痕量As(III)重金屬的電化學(xué)檢測方法，屬于重金屬離子檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明以離子印跡聚合膜修飾的玻碳電極為工作電極，Ag/AgCl電極為參比電極，鉑柱電極為對電極，利用示差脈沖伏安法對不同As(III)濃度的緩沖溶液B進(jìn)行測定，繪制示差脈沖曲線，以峰電流和As(III)濃度關(guān)系繪制得到標(biāo)準(zhǔn)曲線；其中離子印跡聚合膜修飾的玻碳電極為IIM?Nano?Au修飾電極，緩沖溶液B中As(III)濃度為9.9×10?12～6.1×10?5mol/L；將離子印跡聚合膜修飾的玻碳電極放入盛有待測As(III)重金屬樣品液的測量池中，采用示差脈沖伏安法以相同的條件測定待測As(III)重金屬樣品液，繪制示差脈沖曲線，得到As(III)的峰電流，將As(III)的峰電流代入標(biāo)準(zhǔn)曲線得到待測As(III)重金屬樣品液中As(III)重金屬濃度。本發(fā)明可直接采用電化學(xué)測定法測定As(Ⅲ)含量。