本發(fā)明提供了一種采用
電化學(xué)檢測(cè)裝置進(jìn)行局部區(qū)域形貌掃描的電化學(xué)檢測(cè)方法,通過三維步進(jìn)電機(jī)實(shí)現(xiàn)探針快速、長(zhǎng)距離的控制,通過壓電陶瓷傳感器實(shí)現(xiàn)短距離的精密控制,利用雙恒電位儀在測(cè)試樣品上維持恒定電位,同時(shí)在測(cè)試探針上外加交流電位信號(hào),通過數(shù)據(jù)采集模塊獲取樣品局部區(qū)域的實(shí)部Zre、虛部-Zim、模值|Z|、相位角-Phase等電化學(xué)信號(hào)的三維空間分布的成像信息,并獲得等效電路的各元件參數(shù)信息。其克服常規(guī)掃描電化學(xué)顯微鏡存在的信號(hào)弱、獲得反饋電流密度信號(hào)難、檢測(cè)信號(hào)單一等缺點(diǎn),可以獲得樣品表面的局部微觀阻抗分布特征,信息豐富,有利于研究解析樣品的真實(shí)特性。
聲明:
“局部區(qū)域形貌掃描的電化學(xué)檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)