一種用于識別分析物的無電極的系統(tǒng),該系統(tǒng)基于對由化學(xué)梯度驅(qū)動的通過納米孔的離子流動的光學(xué)測量,以及一種通過使用該系統(tǒng)用于識別分析物的方法。一種用于平行識別不同分析物的無電極的納米孔陣列、一種通過使用該陣列識別不同分析物的方法以及一種生產(chǎn)該陣列的方法。
聲明:
“不使用電極的納米孔單分子分析物檢測” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)