本發(fā)明涉及納米孔在
電化學(xué)檢測(cè)植物抗性基因表達(dá)多肽中的應(yīng)用及檢測(cè)方法,屬于電化學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明公開了納米孔在電化學(xué)檢測(cè)植物基因表達(dá)的多肽中的應(yīng)用,通過在電化學(xué)檢測(cè)分析裝置中設(shè)置納米孔,采集所述多肽通過納米孔前后的電信號(hào),對(duì)電信號(hào)的幅值,阻滯時(shí)間以及信號(hào)量等特征進(jìn)行分析,從而檢測(cè)多肽的含量、帶電性質(zhì)、二級(jí)結(jié)構(gòu)、多肽的長(zhǎng)度或分子量等信息。另外本發(fā)明還公開了一種電化學(xué)檢測(cè)植物基因表達(dá)多肽的方法,充分發(fā)揮納米孔電化學(xué)檢測(cè)裝置的低成本、快速、無標(biāo)記的優(yōu)點(diǎn),精準(zhǔn)記錄不同多肽所引起的微小電流的變化,重復(fù)性好,可靠性高。
聲明:
“納米孔在電化學(xué)檢測(cè)植物抗性基因表達(dá)多肽中的應(yīng)用及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)