本發(fā)明屬于光學(xué)元件性能檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于光學(xué)元件性能檢測(cè)的試驗(yàn)臺(tái)及試驗(yàn)臺(tái)安裝方法。該試驗(yàn)臺(tái)包括基座和工件臺(tái)，所述基座用于支撐所述工件臺(tái)并能夠帶動(dòng)所述工件臺(tái)共同移動(dòng)，所述工件臺(tái)上設(shè)有橫向調(diào)節(jié)單元，所述基座包括支撐板，所述支撐板的下方設(shè)有可移動(dòng)單元，所述可移動(dòng)單元和所述支撐板之間設(shè)有高度調(diào)節(jié)單元，所述支撐板的上方的兩個(gè)對(duì)稱(chēng)面上設(shè)有縱向調(diào)節(jié)單元，所述試驗(yàn)臺(tái)的左、右兩側(cè)機(jī)架上均設(shè)有縱向限位單元。通過(guò)使用本發(fā)明所述的用于光學(xué)元件性能檢測(cè)的試驗(yàn)臺(tái)及試驗(yàn)臺(tái)安裝方法，能夠?yàn)楣ぜ_(tái)提供一個(gè)可調(diào)節(jié)的安裝基準(zhǔn)面，同時(shí)裝置本身具有能夠?qū)崿F(xiàn)平移運(yùn)動(dòng)，在工件臺(tái)搬運(yùn)過(guò)程中無(wú)需借助外部工具，簡(jiǎn)化了搬運(yùn)過(guò)程。