本發(fā)明公開了一種基于非均勻介質(zhì)的微動(dòng)探測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:獲取非均勻介質(zhì)模型中的多個(gè)模擬檢測(cè)點(diǎn),確定各模擬檢測(cè)點(diǎn)的一維譜比曲線,確定多個(gè)不同頻率的微動(dòng)信號(hào)在所述非均勻介質(zhì)模型中的影響區(qū)域,以及第一微動(dòng)信號(hào)對(duì)應(yīng)的影響區(qū)域內(nèi)的多個(gè)目標(biāo)模擬檢測(cè)點(diǎn),基于所述多個(gè)目標(biāo)模擬檢測(cè)點(diǎn)與第一目標(biāo)模擬檢測(cè)點(diǎn)之間的距離確定對(duì)應(yīng)于各個(gè)目標(biāo)模擬檢測(cè)點(diǎn)的加權(quán)系數(shù),基于各個(gè)目標(biāo)模擬檢測(cè)點(diǎn)的加權(quán)系數(shù)以及各個(gè)目標(biāo)模擬檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的一維譜比曲線,確定所述第一目標(biāo)模擬檢測(cè)點(diǎn)的綜合譜比曲線。本發(fā)明通過(guò)對(duì)多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)按距離加權(quán),實(shí)現(xiàn)了對(duì)非均勻介質(zhì)的微動(dòng)綜合譜比曲線的計(jì)算,從而更好地探測(cè)實(shí)際復(fù)雜地質(zhì)結(jié)構(gòu)。
聲明:
“基于非均勻介質(zhì)的微動(dòng)探測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)